產(chǎn)品推薦
飛納掃描電鏡
飛納臺式場發(fā)射掃描電鏡 Phenom Pharos G2
XL G3臺式電鏡飛納臺式掃描電鏡-自動化質(zhì)控解決方案
Pharos G2 臺式電鏡飛納臺式場發(fā)射掃描電鏡｜科研級桌面電鏡
NANOFABRICATOR™ LITEaAtlant 3D 直接原子層打印系統(tǒng)
Pharos STEM 臺式生物掃透電鏡
國產(chǎn)飛納 ProX國產(chǎn)型號飛納臺式掃描電鏡能譜一體機(jī)
Femto Smart 定制化多光子顯微鏡
Femto3D Atlas 聲光三維雙光子顯微鏡
FM-PR-PDS掩膜版｜保護(hù)膜表面顆粒物快速檢測系統(tǒng)
FM-W-PDS晶圓表面顆粒物快速檢測系統(tǒng)（PDS)
FM-PS-SAS-V01儀器表面顆粒物分析儀
FM-PS-PFS-V02環(huán)境落塵顆粒實(shí)時監(jiān)控儀（PFS）
LiteScopeAFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)（通用版）
Neoscan NXL臺式大倉顯微CT
AFM-in-Phenom XL「新」AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機(jī)
傳真：
郵箱：info@phenom-china.com
地址：上海市閔行區(qū)虹橋鎮(zhèn)申濱路 88 號上海虹橋麗寶廣場 T5，705 室
版權(quán)所有 © 2018 復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司 備案號：滬ICP備12015467號-2 管理登陸 技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) GoogleSitemap
400 857 8882
18516656178
